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      寧波科誠儀器有限公司
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      宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀

      宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀

      型    號:
      報    價: 9900
      分享到:

      宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀,包含UM-5D的所有特性:回波-回波測量模式,穿透涂層測量,彩色實時A/B掃描,過零測量技術,可設置增益、消隱、閘門、范圍、延時、射頻、倒向射頻、正半波、負半波、全波、更新率、B掃描Z大/Z小值等多種參數,耦合或報警時厚度值和波形顏色動態改變。增加大容量數據記錄器,包含通訊軟件及USB通訊電纜,標配TC510穿透涂層探頭。

      宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀的詳細資料:

      宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀

      宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的產品特點:

      宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀,包含UM-5D的所有特性,增加大容量數據記錄器(可存儲10萬個厚度值和1000幅波形),隨機包含通訊軟件及USB通訊電纜,標配TC510穿透涂層探頭。

      如果你遇到了普通測厚儀不能解決的問題,請選擇UM-5D超聲波測厚儀AB掃描穿透涂層,它能zui大限度的解決各種測厚難題,為您提供高性價比的解決方案。

      1.更大的存儲器、更方便的存儲功能:

      可存儲100000個厚度值,是同檔產品的20至200倍;國內采用柵格式存儲文件,一屏可顯示15個厚度值,并同時顯示其在柵格中的位置,便于用戶瀏覽所存的厚度數據;可存儲1000幅A或B掃描波形,波形和厚度值可在同一文件中混存;USB 2.0 全速(Full Speed)接口,功能強大的DataView數據統計及管理軟件。

      2.具有穿透涂層功能,不再需要費時費力的去除涂層工作了:

      我們之前在國內推出了具有穿透涂層技術的UM-1D測厚儀,現在UM-5DL同樣具備了這一*的功能。該功能是通過測量基材的兩個連續底面回波實現的。

      該模式下還具有更多的優勢:免零點校準;高穩定性,測量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響;零漂移。

      3.實時彩色A-掃描(Live Color A-Scan) :

      用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型(A掃描),這對于需要驗證厚度讀數是否正確的場合是至關重要的。許多情況會引發錯誤的厚度讀數甚至無讀數,根據波形能輕松找到問題所在,然后根據波形僅需對增益(GAIN)、消隱(BLANKING)、閘門(GATE)這三個參數做適當調整,就可得到正確的厚度讀數。波形的用處:根據波形驗證厚度讀數;根據波形找到問題所在;根據波形尋求解決之道;根據波形調整參數解決問題。

      4.增益調整(GAIN):

      調整儀器對回波信號的放大倍數允許以ldB 為單位手動增加或減少。這個功能對聲衰減材料(比如金屬鑄件)的測量是非常有用的。

      5.消隱功能(BLANKING):

      使紅色消隱條范圍內的波形無效,可以略去影響測量的有害雜波,比如因材料表面粗糙或內部不均勻引起的噪聲。

      6.閘門高度可調(GATE):

      只有回波高于閘門時,儀器才認為接收到了回波,才會有測量值。可見閘門高度可調的重要性,尤其是在應對低回波信號的應用中更是如此(比如超薄板、超厚板的測量)。

      7.紅色箭頭:

      A掃描模式有一個紅色箭頭指示測量點,厚度讀數就是該點的橫坐標,可幫助判斷厚度讀數是否正確,正確測量時紅箭頭應該指向*底面回波前沿。

      8.范圍(RANGE):

      調整顯示在屏幕上的波形范圍,視覺上波形被壓縮或展開。如果沒有正確的設置顯示范圍,回波波形可能出了顯示區域而看不到,但仍能正確地顯示測量值。

      9.平移(DELAY):

      調整顯示在屏幕上的波形的起始位置,視覺上波形被水平移動。

      如果沒有正確的設置平移,回波波形可能出了顯示區域而看不到,但仍能正確地顯示測量值。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上。

      10.實時彩色B-掃描(Live ColorB-Scan) :

      UM-5測厚儀帶時實B掃描功能。顯示沿著探頭移動軌跡的剖面圖,用于觀察被測工件的底面輪廓。并自動捕獲一幅B掃描圖像上的zui小值,由紅色三角指示出zui小值的位置。通過移動指針還可查看B掃描圖像上任一點的厚度值。

      11.整流方式:

      可選擇射頻、正半波、負半波、全波四種整流方式。 

      射頻:描繪了完整的回波波形; 

      正半波:指去掉回波的負半波只顯示正半波; 

      負半波:指去掉回波的正半波而將負半波翻轉顯示為正;

      全波: 指回波的正半波和翻轉為正的負半波均顯示。

      12.更多實用的功能:

      差值/縮減率:差值模式顯示實測厚度與預設厚度之間的差值變化。縮減率是計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比,典型應用時因彎曲而變薄的金屬材料進行測量。

      zui大/zui小值捕獲:屏幕上同時顯示當前厚度值、zui小值和zui大厚度值。

      報警模式:報警時動態改變厚度讀數顏色。

      更新率4Hz、8Hz、16Hz可調:普通的應用可選擇4Hz,當需要快速掃查,比如高溫測量時可選更高的更新率。

      多種語言界面可選:中文、英文、日文等。  

      宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的技術參數:

      1.測量范圍:

      0.5至508毫米(0.02至20英寸),取決于所用探頭、材料、表面狀況和溫度。

      2.單位和顯示分辨率:

      毫米-0.01,0.1 英寸-0.001,0.01。

      3.顯示模式:

      厚度值模式;A-掃描波形模式;B-掃描波圖像模式;zui小/zui大值捕獲模式;差值/減薄率模式;V路徑修正;自動V聲程修正,補償雙晶探頭的非線性度。

      4.示值誤差:

      ±0.05mm(25mm以下);±0.2%H(100mm以下);±0.5%H(100mm以上)。

      注:H為被測物厚度。

      5.重復性:±0.05mm。

      6.顯示屏:320*240點陣,2.4寸真彩屏。

      7.測量速率:4Hz,8Hz,16Hz可調。

      8.聲速范圍:500~9999m/s,0.0197~0.3937in/us。

      9.工作語言:中文、英文、日語(可選)。

      10.電源:兩節1.5V  AA電池。

      11.操作時間:兩節1.5V  AA電池,使用時間大于36小時。

      12.自動關機:5分鐘,10分鐘,20分鐘無操作后自動關機或手動關機。

      13.工作溫度:-10℃~+50℃,有特殊要求可達-20℃。

      14.尺寸:153*76*37mm (H*W*D)。

      15.重量:含電池280g。

      宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的標準配置:

      測厚儀主機

      標配探頭

      儀器箱

      兩節1.5V堿性電池

      耦合劑

      操作手冊

      宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的可選附件:

      多種可供選擇的探頭;階梯試塊;耦合劑及高溫耦合劑。

      宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的多種探頭可選:

      型號

      PT08

      TC510

      PT12

      PT06

      PT04

      ZT12

      GT12

      類型

      UM-4標準

      4D/4DL標配

      標配

      小徑管

      指尖

      粗晶(鑄鐵)

      高溫

      頻率

      5MHz

      5MHz

      5MHz

      7.5MHz

      10MHz

      2MHz

      5MHz

      接觸直徑

      11mm

      13.5mm

      13.5mm

      8mm

      6mm

      17mm

      15mm

      測量范圍

      0.8-100mm

      1.2-200mm

      1-200mm

      0.8-30mm

      0.7-12mm

      4-508mm

      4-80mm

      允許溫度

      -10-70℃

      -10-70℃

      -10-70℃

      -10-70℃

      -10-70℃

      -10-70℃

      -20-300℃



       如果你對宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀感興趣,想了解更詳細的產品信息,填寫下表直接與廠家聯系:

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